တရုတ်သံမဏိဖွဲ့စည်းပုံအိမ်ရာအဆောက်အအုံသံမဏိဖွဲ့စည်းပုံဗီလာ

အရည်အသွေးသံမဏိဘောင်အဆောက်အအုံများဂဟေဆော်ခြင်းသည် စီမံကိန်းတစ်ခုလုံး၏ ဘေးကင်းရေးကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်သောကြောင့် ဂဟေများကို မပျက်စီးစေသော စမ်းသပ်ခြင်းသည် အလွန်အရေးကြီးသော ချိတ်ဆက်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဂဟေစမ်းသပ်ခြင်းတွင် အောက်ပါတို့ပါဝင်သည်-

ဂဟေဆက်ခြင်းများတွင် အတွင်းပိုင်းချို့ယွင်းချက်များကို ပျက်စီးခြင်းမရှိသော စမ်းသပ်ခြင်း
(၁) ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှု စစ်ဆေးခြင်း ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှု စစ်ဆေးခြင်းသည် ဖလိုရက်ဆင့်ဆိုးဆေး သို့မဟုတ် အနီရောင်ဆိုးဆေး၏ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှုအာနိသင်ကို အသုံးပြု၍ ချို့ယွင်းချက်များ၏ အရိပ်အယောင်များကို ပြသသည့် ပျက်စီးခြင်းမရှိသော စစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ အသုံးများသော နည်းလမ်းများတွင် ဖလိုရက်ဆင့်စစ်ဆေးခြင်းနှင့် အရောင်စစ်ဆေးခြင်းတို့ ပါဝင်သည်။
သန့်စင်ထားသော ဂဟေဆက်မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သော အနီရောင်ဆိုးဆေးကို ဖြန်းပါ။ ဂဟေဆက်မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အပြစ်အနာအဆာများထဲသို့ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်ပြီးနောက် ဂဟေဆက်မျက်နှာပြင်ကို သန့်ရှင်းစွာ သုတ်ပါ။ ထို့နောက် အဖြူရောင် မျက်နှာပြင်ပေါ် သုတ်လိမ်းပါ။ အခြောက်ခံပြီးနောက် ဂဟေဆက်၏ အပြစ်အနာအဆာများထဲသို့ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်သွားသော အရောင်ဆိုးဆေးကို capillary လုပ်ဆောင်ချက်ကြောင့် အဖြူရောင် မျက်နှာပြင်ပေါ်မှ စုပ်ယူပြီး မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် အပြစ်အနာအဆာများ၏ အနီရောင်လက္ခဏာများကို ပြသသည်။ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှု စမ်းသပ်ခြင်းကို ချောမွေ့သော မျက်နှာပြင်ရှိသော မည်သည့်ပစ္စည်းတွင်မဆို အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။
(၂) သံလိုက်အမှုန်စစ်ဆေးခြင်း သံလိုက်အမှုန်စစ်ဆေးခြင်းဆိုသည်မှာ သံလိုက်စက်ကွင်းလိုင်းများသည် ဂဟေဆက်ကိုဖြတ်သွားစေရန် အားကောင်းသောသံလိုက်စက်ကွင်းတွင် ဂဟေဆက်ခြင်းကို သံလိုက်စက်ကွင်းအဖြစ်ပြောင်းလဲရန်ဖြစ်သည်။ ဂဟေဆက်မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် သို့မဟုတ် အနီးတွင် ချို့ယွင်းချက်များနှင့် ကြုံတွေ့ရသောအခါ၊ သံလိုက်စီးကြောင်းယိုစိမ့်မှုဖြစ်ပေါ်လာပြီး ဂဟေဆက်မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ပြန့်ကျဲနေသော သံလိုက်သံအောက်ဆိုဒ်ကို ဆွဲဆောင်သည်။
သံမှုန့်စုပ်ယူမှု အရိပ်အယောင်များအပေါ် အခြေခံ၍ ချို့ယွင်းချက်၏တည်နေရာနှင့် အရွယ်အစားကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ သံလိုက်အမှုန်စစ်ဆေးခြင်းသည် ferromagnetic ပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ သို့မဟုတ် မျက်နှာပြင်အနီးရှိ ချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေတွေ့ရှိရန်အတွက်သာ သင့်လျော်ပါသည်။
(၃) ရေဒီယိုဂရပ်ဖစ်စစ်ဆေးခြင်း ရေဒီယိုဂရပ်ဖစ်စစ်ဆေးခြင်း အမျိုးအစားနှစ်မျိုးရှိသည်- X-ray နှင့် Y-ray စစ်ဆေးခြင်း။ စစ်ဆေးထားသော ဂဟေဆက်ကြောင်းမှတစ်ဆင့် ရောင်ခြည်များဖြတ်သန်းသွားသောအခါ၊ ချို့ယွင်းချက်တစ်ခုရှိပါက၊ ချို့ယွင်းချက်မှတစ်ဆင့် ရောင်ခြည်၏လျော့ပါးမှုသည် နည်းပါးသောကြောင့် ဂဟေဆက်၏နောက်ဘက်ရှိ ဖလင်သည် အလင်းကို ပိုမိုထိခိုက်လွယ်သည်။ ဖလင်ကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီးနောက်၊ ချို့ယွင်းနေသောနေရာတွင် အမည်းစက်များ သို့မဟုတ် အစင်းကြောင်းများ ပေါ်လာလိမ့်မည်။
X-ray ရောင်ခြည် ထိတွေ့ချိန် တိုတောင်းပြီး မြန်ဆန်သော်လည်း စက်ပစ္စည်းများသည် ရှုပ်ထွေးပြီး စျေးကြီးပြီး ၎င်း၏ ထိုးဖောက်နိုင်စွမ်းသည် Y-ray များထက် သေးငယ်သည်။ ထောက်လှမ်းရမည့် ဂဟေဆက်အထူသည် ၃၀ မီလီမီတာထက် နည်းသင့်သည်။ Y-ray စစ်ဆေးရေး စက်ပစ္စည်းသည် ပေါ့ပါးပြီး လည်ပတ်ရလွယ်ကူကာ ထိုးဖောက်နိုင်စွမ်း မြင့်မားပြီး ၃၀၀ မီလီမီတာ သံမဏိပြားများကို ထွန်းလင်းနိုင်သည်။ အလင်းပြန်စေသည့် လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း ပါဝါထောက်ပံ့မှု မလိုအပ်သောကြောင့် လယ်ကွင်းလုပ်ငန်းများအတွက် အဆင်ပြေစေသည်။ သို့သော် ၅၀ မီလီမီတာထက် လျော့နည်းသော အလင်းကို ထောက်လှမ်းသည့်အခါ အာရုံခံနိုင်စွမ်း မြင့်မားခြင်း မရှိပါ။
(4) အာထရာဆောင်းစမ်းသပ်ခြင်း အာထရာဆောင်းစမ်းသပ်ခြင်းသည် အာထရာဆောင်းလှိုင်းများသည် သတ္တုအတွင်းသို့ ပျံ့နှံ့နိုင်ပြီး မီဒီယာနှစ်ခုကြားရှိ မျက်နှာပြင်နှင့် ထိတွေ့သောအခါ ရောင်ပြန်ဟပ်ပြီး လမ်းကြောင်းလွဲသွားမည်ဟူသော အခြေခံမူကို အသုံးပြု၍ ဂဟေဆက်ခြင်းတွင် အတွင်းပိုင်းချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေဖော်ထုတ်သည်။